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环境可靠性与电磁兼容试验中心

Environmental Reliability & EMC Test Center

产品详情
元器件偏置及寿命评估试验
试验基地:广州
试验标准:待定
试验范围:电子元器件
联系人:谌伦文
电话:18503016432/020-66289502
邮箱:chenlw@grgtest.com
地址:广州市天河区黄埔大道西平云路163号

序号

项目

拆分单项

范围

1

偏置试验

高温

0~300℃

2

低温

<0℃

3

湿热

800

4

寿命评价试验

热冲击和普通热循环(气态)

-65℃~150℃(每分钟升10~15度,降温时保留一定时间再升,保护箱子)

5

快速温度变化

-60℃~150℃,温变速率10℃/分钟以内。

6

-60℃~125℃,温变速率10~15℃/分钟

7

热冲击(液态)


8

盐雾


9

霉菌


10

高压蒸煮

0.1MPa~0.5Mpa

11

低气压

>133Pa

12

高低温低气压

5~30kPa -54~+150℃

13

>30kPa -65~+160℃

14

气体腐蚀


15

耐爆炸


16

太阳辐射

光老化氙灯

17

紫外

18

淋雨

IP级别

19

防尘

IP级别

20

振动

2吨台/400Kg台

21

大吨台

22

动态监测

1μs~0.5ms

23

冲击

半正弦波(中、小台)

24

半正弦波(大台)

25

后峰锯齿波(中、小台)

26

碰撞

≤50Kg

27

跌落

<25Kg

28

﹥25Kg

29

离心

<200g

30

200~5000g

31

>5000g

32

22m3试验室

高温恒定湿热

33


低温交变湿热

34

32m3试验室

盐雾湿热

35

耐电压

10kv以下

36

噪音


37

综合试验


38

HASS试验


39

10m3HASS箱

高温湿热

0