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元器件偏置及寿命评估试验
试验基地:广州
试验标准:待定
试验范围:电子元器件
试验标准:待定
试验范围:电子元器件
联系人:谌伦文
电话:18503016432/020-66289502
邮箱:chenlw@grgtest.com
地址:广州市天河区黄埔大道西平云路163号
电话:18503016432/020-66289502
邮箱:chenlw@grgtest.com
地址:广州市天河区黄埔大道西平云路163号
序号 |
项目 |
拆分单项 |
范围 |
1 |
偏置试验 |
高温 |
0~300℃ |
2 |
低温 |
<0℃ | |
3 |
湿热 |
800 | |
4 |
寿命评价试验 |
热冲击和普通热循环(气态) |
-65℃~150℃(每分钟升10~15度,降温时保留一定时间再升,保护箱子) |
5 |
快速温度变化 |
-60℃~150℃,温变速率10℃/分钟以内。 | |
6 |
-60℃~125℃,温变速率10~15℃/分钟 | ||
7 |
热冲击(液态) |
||
8 |
盐雾 |
||
9 |
霉菌 |
||
10 |
高压蒸煮 |
0.1MPa~0.5Mpa | |
11 |
低气压 |
>133Pa | |
12 |
高低温低气压 |
5~30kPa -54~+150℃ | |
13 |
>30kPa -65~+160℃ | ||
14 |
气体腐蚀 |
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15 |
耐爆炸 |
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16 |
太阳辐射 |
光老化氙灯 | |
17 |
紫外 | ||
18 |
淋雨 |
IP级别 | |
19 |
防尘 |
IP级别 | |
20 |
振动 |
2吨台/400Kg台 | |
21 |
大吨台 | ||
22 |
动态监测 |
1μs~0.5ms | |
23 |
冲击 |
半正弦波(中、小台) | |
24 |
半正弦波(大台) | ||
25 |
后峰锯齿波(中、小台) | ||
26 |
碰撞 |
≤50Kg | |
27 |
跌落 |
<25Kg | |
28 |
﹥25Kg | ||
29 |
离心 |
<200g | |
30 |
200~5000g | ||
31 |
>5000g | ||
32 |
22m3试验室 |
高温恒定湿热 | |
33 |
低温交变湿热 | ||
34 |
32m3试验室 |
盐雾湿热 | |
35 |
耐电压 |
10kv以下 | |
36 |
噪音 |
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37 |
综合试验 |
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38 |
HASS试验 |
||
39 |
10m3HASS箱 |
高温湿热 |