|
试验标准：JEDEC、AEC-Q100、MIL-STD-883
试验范围：芯片，IC，集成电路
联系方式：18503016432/dennis_wing@163.com
地址：广州市天河区黄埔大道西平云路163号
GRGT Laboratories是ESD测试（静电放电）和闩锁测试的行业领导者。
我们的内部PCB团队还可以快速创建自定义ESD夹具，以帮助您加快实现结果的速度。此外，EAG的ESD团队是一个更大的服务组织的一部分，为客户提供世界一流的服务故障分析，环境/ 可靠性测试, FIB电路编辑, 电子显微镜 还普及至 ATE测试服务。
有了六台Thermo Fisher Scientific Orion CDM机器，GRGT实验室拥有最多容量和最新设备，用于带电设备模型测试。 我们的ISO 9001：2015认证的全方位服务实验室还提供故障分析，先进的显微镜检查和材料测试，以确定ESD故障的根本原因。
HBM，MM和CDM测试
适用的HBM规格
- JEDEC：JS-001-2017和JESD22-A114（由JS-001-2017取代）
- 国防部：MIL-STD-883，方法3015.7
- 汽车电子委员会：AEC-Q100-002和AEC-Q101-001（基于JS-001-2017）
- ESD协会：ESD STM 5.1-1998（由JS-001-2017取代）
适用的CDM规格
- JEDEC：JS-002-2018和JESD22-C101（由JS-002-2018取代）
- 汽车电子委员会：AEC-Q100-011和AEC-Q101-005（基于JS-002-2018）
- ESD协会：ESDA STM 5.3.1-1999（由JS-002-2018取代）
适用的MM规格
- JEDEC：JESD22-A115（由JEDEC淘汰，但仍然可用）
- 汽车电子委员会：AEC-Q100-003和AEC-Q101-002（由AEC淘汰，但仍然可用）
- ESD协会：ESD STM 5.2-1999（由ESDA淘汰，但仍然可用）
虽然闩锁测试是在与ESD测试相同的自动测试仪上进行的，但测试却截然不同。 ESD测试不是在偏见下进行的。在DUT供电的情况下执行闩锁测试，并且将信号施加到器件以将其置于稳定的低电流配置中。 专用的ESD / LU工作表用于设置自动测试仪，例如Thermo Scientific Mk2或Mk4。每个测试器通道都具有独特的能力，可以编程为电源，信号引脚或矢量引脚。
IC闩锁测试的目标是触发和监控潜在的闩锁事件，其中应力脉冲激活CMOS或Bi-CMOS工艺技术中的寄生晶体管结构。闩锁测试基本上是关于芯片的物理布局，电路块相对于彼此的位置，以及如何从半导体材料中的物理元件中去除意外的电荷。
根据JEDEC闩锁规范的当前版本进行闩锁测试，但也可以根据JESD78的先前版本进行测试。测试可在客户指定的环境温度下进行，温度范围为25°C至125°C。由于变量太多，因此根据工作说明，创建工作测试的估计工程时间，执行测试的机器时间以及客户请求的报告，逐个引用闩锁测试。
适用的LU规格
- JEDEC：JESD78E
- 汽车电子委员会：AEC-Q100-004（基于JESD78E）