功率模块AQG(LV)324认证（IGBT, MOSFET, DIODE）
摘要：本标准定义了功率模块所需验证的测试项目、测试要求以及测试条件，适用范围包括电力电子模块的使用寿命和基于分立器件的等效特殊设计，例如用于高达3.5吨机动车辆的电力电子转换器单元(PCU)。标准中定义的测试项目是基于当前已知的模块失效机制和机动车辆功率模块的特定使用说明文件进行编写的。
AQG 324标准是机动车辆电力电子转换器单元(PCU)
功率模块( IGBT, MOSFET, diode)的测试标准
本标准定义了功率模块所需验证的测试项目、测试要求以及测试条件，适用范围包括电力电子模块的使用寿命和基于分立器件的等效特殊设计，例如用于高达3.5吨机动车辆的电力电子转换器单元(PCU)。
标准中定义的测试项目是基于当前已知的模块失效机制和机动车辆功率模块的特定使用说明文件进行编写的。
本标准列出的测试项目、测试要求以及测试条件，大体上适用于Si基功率半导体模块。后续发行版本将涉及替代半导体技术，如 SiC或GaN，以及新型组装和互连技术。
注：本标准功率模块测试不能代替机动车辆完整PCU测试。
AQG 324标准文件中描述的测试项目主要用于验证汽车工业中功率模块的特性和寿命。包含以下内容：
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QM – 模块测试 |
栅极参数 额定电流和漏电流 饱和电压 X射线、扫描声学显微镜/断层扫描(SAM/SAT) 内部实物检查/目视检查(IPI/VI)、光学显微镜评估(OMA) |
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QC – 模块特性测试 |
QC-01 寄生杂散电感(Lp) QC-02 热阻(Rth值) QC-03 短路能力 QC-04 绝缘测试 QC-05 机械数据 |
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QE – 环境测试 |
QE-01 热冲击试验(TST) QE-02 接触性(CO) QE-03 振动(V) QE-04 机械冲击（MS） |
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QL – 寿命测试 |
QL-01 电源循环 (PCsec) QL-02 电源循环(PCmin) QL-03 高温储存(HTS) QL-04 低温储存(LTS) QL-05 高温反向偏置(HTRB) QL-06 高温栅极偏置(HTGB) QL-07高湿高温反向偏压(H3TRB) |
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